Markt & Technik

Der Prüfadapter IM9202 von Hioki ist für Tests im Frequenzbereich von 0 bis 600 MHz ausgelegt.
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Hioki

Vielseitiger HF-Prüfadapter

Mit Hilfe der Impedanzanalysatoren der Serie IM758X von Hioki ermöglicht der neue Prüfadapter IM9202 Hochfrequenzmessungen an SMD- und bedrahteten Bauteilen.

aw
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Advertorial

Höhere Produktivität für das Cloud-Engineering

Ansys arbeitet mit Microsoft zusammen, um die Nutzung technischer Simulationen in allen...

Geldhahn
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Vom Ketchup bis zum Traktor

EU erhebt Strafzölle auf US-Produkte

Die Europäische Union erhebt von diesem Dienstag an auf die Einfuhr von zahlreichen...

Christian Bruch, Siemens Energy: »Für jeden der möglichen Standorte in Deutschland gab es gute Argumente. Mit der Wahl für Berlin verknüpfen wir die historischen Wurzeln von Siemens Energy mit der Gestaltung der zukünftigen, nachhaltigeren Energiewel
© Siemens Energy

Hoher Verlust bei Siemens Energy

In Zukunft: Keine reinen Kohlekraftwerke mehr

Bei seiner ersten Jahresbilanz hat Siemens Energy tiefrote Zahlen vorgelegt. Belastet...

Die Gehäuse der Serie »proboxx« von Schlegel Elektrokontakt verleihen elektromechanischen Bedienelementen Connectivity.
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Bedienelemente-Gehäuse für Connectivity

Befehlsgeräte ins IoT einbinden

IoT und KI werden auch bei klassischen Schaltern und Tasten zunehmend zum Thema....

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Eurocircuits auf der electronica virtual

Online prüfen, ob das Design passt

Unter dem Motto „Der zuverlässige Weg zum Prototypen“ präsentiert sich Eurocircuits auf...

Die ersten Funktionstests des neuen Quantensensors von Q.ANT und SICK waren erfolgreich. Hier prüft ein Mitarbeiter die optischen Signale des Sensors.
© Trumpf

Erster industrieller Quantensensor

Trumpf und Sick kooperieren

Die Trumpf-Tochtergesellschaft Q.ANT und der Sensorik-Spezialist Sick arbeiten...

Erste Automotive-GaN-FETs Texas Instruments
© Texas Instruments

Neue Automotive-GaN-FETs von TI

Doppelte Leistungsfähigkeit mit weniger Bauelementen

Texas Instruments erweitert mit den weltweit ersten 650 V Automotive-GaN-FETs...

PXI-Testsystem für die Charakterisierung von Laserdioden anhand ihrer LIV-Kennlinien
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electronica virtual / VX Instruments

Neues 2-µs-Laser-Dioden-Testsystem

VX Instruments erweitert sein Portfolio um das Laserdioden-Testsystem LTS8620. Es...

SECO S.p.A.
© SECO S.p.A.

Advertorial

SECO lanciert Modul mit NXP i.MX 8M Plus Prozessoren

SECO lanciert das SMARC Rel. 2.1 konforme Modul mit NXP i.MX 8M Plus Prozessoren für...